ABSOLUTE CALIBRATION OF AN X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROMETER

被引:38
作者
EBEL, MF [1 ]
机构
[1] TECH UNIV WIEN, INST TECH PHYS, Vienna, AUSTRIA
关键词
D O I
10.1016/0368-2048(76)81006-7
中图分类号
O433 [光谱学];
学科分类号
0703 ; 070302 ;
摘要
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页码:213 / 224
页数:12
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