TECHNIQUES FOR DIAGNOSIS OF SWITCHING CIRCUIT FAILURES

被引：26

作者：

GALEY, JM

ROTH, JP

NORBY, RE

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON COMMUNICATION AND ELECTRONICS | 1964年 / 83卷 / 74期

关键词：

D O I：

10.1109/TCOME.1964.6539498

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：509 / &

共 7 条

[1]

GALEY JM, 1961, SR157 RES MEM

[2]

GRIESMER JH, 1961, SR158 RES MEM

[3]

KARP M, 1960, SR101 RES MEM

[4] MINIMIZATION OF BOOLEAN FUNCTIONS [J].

MCCLUSKEY, EJ .

BELL SYSTEM TECHNICAL JOURNAL, 1956, 35 (06) :1417-1444

ROTH, JP ;

WAGNER, EG .

[6]

ROTH JP, 1960, SR140 RES MEM

[7]

ROTH JP, 1960, SR114 RES MEM