STRUCTURAL INVESTIGATIONS OF NASICON (NA1+XZR2SIXP3-XO12 - X=3) WITH X-RAY-DIFFRACTION AT 298K AND 403K

被引：37

作者：

KOHLER, H ^{[1
]}

SCHULZ, H ^{[1
]}

MELNIKOV, O ^{[1
]}

机构：

[1] AV SHUBNIKOV CRYSTALLOG INST,MOSCOW,USSR

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0025-5408(83)90216-7

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：589 / 592

页数：4

共 7 条

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