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DEVELOPMENT OF NANOMETRIC ELECTRON-BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM (JBX-5D-II)
被引:8
作者
:
SHEARER, MH
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
JEOL LTD, TOKYO 196, JAPAN
JEOL LTD, TOKYO 196, JAPAN
SHEARER, MH
[
1
]
TAKEMURA, H
论文数:
0
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0
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机构:
JEOL LTD, TOKYO 196, JAPAN
JEOL LTD, TOKYO 196, JAPAN
TAKEMURA, H
[
1
]
ISOBE, M
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0
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0
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0
机构:
JEOL LTD, TOKYO 196, JAPAN
JEOL LTD, TOKYO 196, JAPAN
ISOBE, M
[
1
]
GOTO, N
论文数:
0
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0
机构:
JEOL LTD, TOKYO 196, JAPAN
JEOL LTD, TOKYO 196, JAPAN
GOTO, N
[
1
]
TANAKA, K
论文数:
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机构:
JEOL LTD, TOKYO 196, JAPAN
JEOL LTD, TOKYO 196, JAPAN
TANAKA, K
[
1
]
MIYAUCHI, S
论文数:
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机构:
JEOL LTD, TOKYO 196, JAPAN
JEOL LTD, TOKYO 196, JAPAN
MIYAUCHI, S
[
1
]
机构
:
[1]
JEOL LTD, TOKYO 196, JAPAN
来源
:
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B
|
1986年
/ 4卷
/ 01期
关键词
:
D O I
:
10.1116/1.583352
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页数:4
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共 2 条
[1]
PFEIFFER HC, 1984, SOLID STATE TECHNOL, V27, P223
[2]
SHEARER MH, 1985, P SPIE SANTA CLARA
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共 2 条
[1]
PFEIFFER HC, 1984, SOLID STATE TECHNOL, V27, P223
[2]
SHEARER MH, 1985, P SPIE SANTA CLARA
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