SCANNING TUNNELING AND SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY ON HIGH-TC SUPERCONDUCTORS

被引:10
作者
ANSELMETTI, D [1 ]
HEINZELMANN, H [1 ]
WIESENDANGER, R [1 ]
JENNY, H [1 ]
GUENTHERODT, HJ [1 ]
DUEGGELIN, M [1 ]
GUGGENHEIM, R [1 ]
机构
[1] UNIV BASEL,RASTERELEKTRONENMIKROSKOPIE LAB,CH-4056 BASEL,SWITZERLAND
来源
PHYSICA C | 1988年 / 153卷
关键词
D O I
10.1016/S0921-4534(88)80195-3
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
引用
收藏
页码:1000 / 1001
页数:2
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共 1 条
[1]  
Jenny H., 1987, Journal of Materials Research, V2, P775, DOI 10.1557/JMR.1987.0775