A SIMPLE METHOD FOR THE DETERMINATION OF FILM THICKNESS FROM ELECTRON IMAGE-CONTRAST IN A SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE

被引：14

作者：

RAJORA, OS

CURZON, AE

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0040-6090(85)90163-4

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：235 / 238

页数：4

共 5 条

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