GENERATION OF EM SUSCEPTIBILITY TEST FIELDS USING A LARGE ABSORBER-LOADED TEM CELL

被引：8

作者：

CRAWFORD, ML ^{[1
]}

WORKMAN, JL ^{[1
]}

THOMAS, CL ^{[1
]}

机构：

[1] NATL BUR STAND,DIV ELECTROMAGNET,BOULDER,CO 80302

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TIM.1977.4314541

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：225 / 230

页数：6