APPLICATION OF EMISSION ELECTRON-MICROSCOPY TO STUDYING STRUCTURAL AND TOPOGRAPHIC STATES OF GLASSES WITH A THIN SURFACE FILM OF AL, CU, AU, NI AND PT METAL

被引：1

作者：

BOCHYNSKI, Z ^{[1
]}

SCHMIDT, W ^{[1
]}

机构：

[1] ADAM MICKIEWICZ UNIV,INST PHYS,LAB X-RAY & ELECTR DIFFRACTION STRUCT STUDIES,GRUNWALDZKA 6,60-780 POZNAN,POLAND

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0022-3093(75)90074-5

中图分类号：

TQ174 [陶瓷工业]; TB3 [工程材料学];

学科分类号：

0805 ; 080502 ;

摘要：

引用

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