NON-DESTRUCTIVE MEASUREMENT OF GLASS ON SILICON DIOXIDE THROUGH NEAR-INFRARED (NIR) INTERFERENCE

被引：8

作者：

CORL, EA

KOSANKE, K

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0038-1101(66)90070-0

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：943 / &

共 5 条

CORL, EA ;

WIMPFHEIMER, H .

[2]

PLISKIN W, REFRACTIVE INDEX SIO

PLISKIN, WA ;

CONRAD, EE .

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[5]

1964, 9909483 PERK ELM CO