A THEORY FOR THE DESIGN OF SOFT-ERROR-TOLERANT VLSI CIRCUITS

被引：2

作者：

SAVARIA, Y

HAYES, JF

RUMIN, NC

AGARWAL, VK

机构：

[1] MCGILL UNIV,DEPT ELECT ENGN,MONTREAL H3A 2T5,QUEBEC,CANADA

[2] CONCORDIA UNIV,DEPT ELECT ENGN,MONTREAL H3G 1M8,QUEBEC,CANADA

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/JSAC.1986.1146297

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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