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SIRACUS, AN EXPERT SYSTEM TO HELP INSPECTORS IN CHARACTERIZING DETECTED DEFECTS
被引：2
作者：
BIETH, M
MONJARET, JL
NGUYEN, TH
机构：
关键词：
D O I：
10.1016/0308-0161(88)90108-1
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
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页码：321 / 329
页数：9
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