X-RAY-SCATTERING FACTORS OF CRYSTALLINE SILICON AND GERMANIUM FROM A BOND CHARGE MODEL

被引:12
作者
BALBAS, LC
RUBIO, A
ALONSO, JA
MARCH, NH
BORSTEL, G
机构
[1] UNIV OXFORD,DEPT THEORET CHEM,OXFORD OX1 3TG,ENGLAND
[2] UNIV OSNABRUCK,FACHBEREICH PHYS,D-4500 OSNABRUCK,FED REP GER
关键词
D O I
10.1016/0022-3697(88)90147-3
中图分类号
O6 [化学];
学科分类号
0703 ;
摘要
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页数:5
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