A CONTROLLED SPECIMEN PREPARATION TECHNIQUE FOR INTERFACE STUDIES WITH ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPY

被引：49

作者：

HENJERED, A

NORDEN, H

机构：

来源：

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1983年 / 16卷 / 07期

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3735/16/7/014

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：617 / 619

页数：3

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共 5 条

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