MICROPROBING OF FUNCTIONING SEMICONDUCTOR DEVICES FOR INTERNAL VOLTAGE AND CURRENT DISTRIBUTIONS

被引：1

作者：

SAWYER, DE

机构：

来源：

SOLID-STATE ELECTRONICS | 1962年 / 5卷 / MAR-A期

关键词：

D O I：

10.1016/0038-1101(62)90021-7

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：89 / &

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共 4 条

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