A FAULT-DRIVEN, COMPREHENSIVE REDUNDANCY ALGORITHM

被引：70

作者：

DAY, JR ^{[1
]}

机构：

[1] TERADYNE SEMICOND,DIV TEST,WOODLAND HILLS,CA

来源：

IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS | 1985年 / 2卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1109/MDT.1985.294737

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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