SIMS APPLICATIONS IN INVESTIGATION OF SURFACES, THIN-FILMS AND SANDWICH STRUCTURES, WITH SPECIAL REGARD TO QUANTITATIVE-ANALYSES

被引：6

作者：

GIBER, J ^{[1
]}

机构：

[1] TECH UNIV BUDAPEST,PHYS INST,BUDAPEST,HUNGARY

来源：

THIN SOLID FILMS | 1976年 / 32卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1016/0040-6090(76)90317-5

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页码：295 / 301

页数：7

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共 2 条

[1]

GIBER J, IN PRESS

[2]

WERNER HW, 1974, ADV MASS SPECTROM, V6, P673