THE LOGIC FLOWGRAPH - A NEW APPROACH TO PROCESS FAILURE MODELING AND DIAGNOSIS FOR DISTURBANCE ANALYSIS APPLICATIONS

被引：17

作者：

GUARRO, S ^{[1
]}

OKRENT, D ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV CALIF LOS ANGELES,SCH ENGN & APPL SCI,DEPT MECH & STRUCT,LOS ANGELES,CA 90024

来源：

关键词：

D O I：

10.13182/NT84-A33494

中图分类号：

TL [原子能技术]; O571 [原子核物理学];

学科分类号：

0827 ; 082701 ;

摘要：

引用

页码：348 / 359

页数：12