MEASURING VOLTERRA KERNELS .2.

被引：66

作者：

CHUA, LO ^{[1
]}

LIAO, YL ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV CALIF BERKELEY,ELECTR RES LAB,BERKELEY,CA 94720

来源：

关键词：

D O I：

10.1002/cta.4490170204

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：151 / 190

页数：40

共 5 条

[1] MEASURING VOLTERRA KERNELS [J].

BOYD, S ;

TANG, YS ;

CHUA, LO .

IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS, 1983, 30 (08) :571-577

[2] Analytical Foundations of Volterra Series [J].

Boyd, Stephen ;

Chua, L. O. ;

Desoer, C. A. .

DEFIGUEIREDO, RJP ;

DWYER, TAW .

IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS, 1980, 27 (11) :1005-1014

[4]

Halme A., 1971, International Journal of Systems Science, V2, P25, DOI 10.1080/00207727108920175

[5] EXPANSIONS FOR NON-LINEAR SYSTEMS [J].

SANDBERG, IW .

BELL SYSTEM TECHNICAL JOURNAL, 1982, 61 (02) :159-199