ACCURATE SPECTROMETER CALIBRATION IN ELECTRON-SPECTROSCOPY

被引：37

作者：

OELHAFEN, P ^{[1
]}

FREEOUF, JL ^{[1
]}

机构：

[1] IBM CORP,THOMAS J WATSON RES CTR,YORKTOWN HTS,NY 10598

来源：

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A-VACUUM SURFACES AND FILMS | 1983年 / 1卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1116/1.572320

中图分类号：

TB3 [工程材料学];

学科分类号：

0805 ; 080502 ;

摘要：

引用

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