ON A 2-STAGE BAYESIAN PROCEDURE FOR DETERMINING FAILURE RATES FROM EXPERIENTIAL DATA

被引：73

作者：

KAPLAN, S

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON POWER APPARATUS AND SYSTEMS | 1983年 / 102卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1109/TPAS.1983.318016

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：195 / 202

页数：8

共 9 条

[1] DATA SPECIALIZATION FOR PLANT SPECIFIC RISK STUDIES [J].

APOSTOLAKIS, G ;

KAPLAN, S ;

GARRICK, BJ ;

DUPHILY, RJ .

[2]

APOSTOLAKIS G, 1979, NUCLEAR SAFETY, V20

[3]

Bayes Thomas, 1763, PHILOS T ROY SOC LON, V53, P370, DOI DOI 10.1098/RSTL.1763.0053

[4] THE BAYESIAN-APPROACH TO STATISTICAL DECISION AN EXPOSITION [J].

HIRSHLEIFER, J .

KAPLAN, S ;

GARRICK, BJ ;

BIENIARZ, P .

[6]

KAPLAN S, 1979, NUCLEAR TECHNOLOGY, V44

[7]

KAPLAN S, 1981, UNPUB RISK ANAL, V1

[8]

Lindley D. V., 1970, INTRO PROBABILITY ST

[9]

1978, EPRI NP801 INT REP