2-1/2D ELECTRON-MICROSCOPY - THROUGH-FOCUS DARK-FIELD IMAGE SHIFTS

被引:42
作者
BELL, WL [1 ]
机构
[1] GE VALLECITOS NUCL CTR,PLEASANTON,CA 94566
关键词
D O I
10.1063/1.322766
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
引用
收藏
页码:1676 / 1682
页数:7
相关论文
共 19 条