CHARACTERIZATION OF PT/TIO2 SURFACES BY MEANS OF PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY OF ADSORBED XENON

被引:12
作者
DOLLE, P [1 ]
MARKERT, K [1 ]
HEICHLER, W [1 ]
ARMSTRONG, NR [1 ]
WANDELT, K [1 ]
KIM, KS [1 ]
FIATO, RA [1 ]
机构
[1] EXXON RES & ENGN CO,CORP RES,ANNANDALE,NJ 08801
来源
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A-VACUUM SURFACES AND FILMS | 1986年 / 4卷 / 03期
关键词
D O I
10.1116/1.573538
中图分类号
TB3 [工程材料学];
学科分类号
0805 ; 080502 ;
摘要
引用
收藏
页码:1465 / 1466
页数:2
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