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AUTOMATIC MEASUREMENT OF COMPLEX DIELECTRIC-CONSTANT AND PERMEABILITY AT MICROWAVE-FREQUENCIES
被引:19
作者
:
BLAKNEY, TL
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
UNIV WASHINGTON,DEPT ELECT ENGN,SEATTLE,WA 98195
UNIV WASHINGTON,DEPT ELECT ENGN,SEATTLE,WA 98195
BLAKNEY, TL
[
1
]
机构
:
[1]
UNIV WASHINGTON,DEPT ELECT ENGN,SEATTLE,WA 98195
来源
:
PROCEEDINGS OF THE IEEE
|
1975年
/ 63卷
/ 01期
关键词
:
D O I
:
10.1109/PROC.1975.9725
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808
[电气工程]
;
0809
[电子科学与技术]
;
摘要
:
引用
收藏
页码:203 / 205
页数:3
相关论文
共 3 条
[1]
BLAKNEY TL, 1969, PARAMETER MEASUREMEN
[2]
VONHIPPEL AR, 1954, DIELECTRICS WAVES, P74
[3]
AUTOMATIC MEASUREMENT OF COMPLEX DIELECTRIC-CONSTANT AND PERMEABILITY AT MICROWAVE-FREQUENCIES
[J].
WEIR, WB
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
STANFORD RES INST,MENLO PK,CA 94025
STANFORD RES INST,MENLO PK,CA 94025
WEIR, WB
.
PROCEEDINGS OF THE IEEE,
1974,
62
(01)
:33
-36
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1
→
共 3 条
[1]
BLAKNEY TL, 1969, PARAMETER MEASUREMEN
[2]
VONHIPPEL AR, 1954, DIELECTRICS WAVES, P74
[3]
AUTOMATIC MEASUREMENT OF COMPLEX DIELECTRIC-CONSTANT AND PERMEABILITY AT MICROWAVE-FREQUENCIES
[J].
WEIR, WB
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
STANFORD RES INST,MENLO PK,CA 94025
STANFORD RES INST,MENLO PK,CA 94025
WEIR, WB
.
PROCEEDINGS OF THE IEEE,
1974,
62
(01)
:33
-36
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