OSCILLATOR-STRENGTHS OF XEI ELECTRONIC-TRANSITIONS MEASURED BY ELECTRON SPECTROMETRY

被引:34
作者
DELAGE, A [1 ]
CARETTE, JD [1 ]
机构
[1] UNIV LAVAL,CTR RECH ATOM & MOLEC,PHYS ATOM & MOLEC LAB,QUEBEC CITY 10,QUEBEC,CANADA
来源
PHYSICAL REVIEW A | 1976年 / 14卷 / 04期
关键词
D O I
10.1103/PhysRevA.14.1345
中图分类号
O43 [光学];
学科分类号
070207 ; 0803 ;
摘要
引用
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页码:1345 / 1353
页数:9
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