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ANALYSIS OF MEASUREMENT ACCURACY IN SINUSOIDAL PHASE MODULATING INTERFEROMETRY
被引:62
作者
:
SASAKI, O
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0
SASAKI, O
OKAZAKI, H
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OKAZAKI, H
机构
:
来源
:
APPLIED OPTICS
|
1986年
/ 25卷
/ 18期
关键词
:
D O I
:
10.1364/AO.25.003152
中图分类号
:
O43 [光学];
学科分类号
:
070207 ;
0803 ;
摘要
:
引用
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页码:3152 / 3158
页数:7
相关论文
共 3 条
[1]
DIGITAL WAVEFRONT MEASURING INTERFEROMETER FOR TESTING OPTICAL SURFACES AND LENSES
[J].
BRUNING, JH
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机构:
MCDONNELL DOUGLAS CORP, HUNTINGTON BEACH, CA 92646 USA
BRUNING, JH
;
HERRIOTT, DR
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机构:
MCDONNELL DOUGLAS CORP, HUNTINGTON BEACH, CA 92646 USA
HERRIOTT, DR
;
GALLAGHER, JE
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机构:
MCDONNELL DOUGLAS CORP, HUNTINGTON BEACH, CA 92646 USA
GALLAGHER, JE
;
ROSENFELD, DP
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ROSENFELD, DP
;
WHITE, AD
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MCDONNELL DOUGLAS CORP, HUNTINGTON BEACH, CA 92646 USA
WHITE, AD
;
BRANGACCIO, DJ
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机构:
MCDONNELL DOUGLAS CORP, HUNTINGTON BEACH, CA 92646 USA
BRANGACCIO, DJ
.
APPLIED OPTICS,
1974,
13
(11)
:2693
-2703
[2]
CRANE R, 1969, APPL OPTICS, V8, P538
[3]
SINUSOIDAL PHASE MODULATING INTERFEROMETRY FOR SURFACE PROFILE MEASUREMENT
[J].
SASAKI, O
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SASAKI, O
;
OKAZAKI, H
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OKAZAKI, H
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APPLIED OPTICS,
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DIGITAL WAVEFRONT MEASURING INTERFEROMETER FOR TESTING OPTICAL SURFACES AND LENSES
[J].
BRUNING, JH
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机构:
MCDONNELL DOUGLAS CORP, HUNTINGTON BEACH, CA 92646 USA
BRUNING, JH
;
HERRIOTT, DR
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;
GALLAGHER, JE
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ROSENFELD, DP
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WHITE, AD
;
BRANGACCIO, DJ
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机构:
MCDONNELL DOUGLAS CORP, HUNTINGTON BEACH, CA 92646 USA
BRANGACCIO, DJ
.
APPLIED OPTICS,
1974,
13
(11)
:2693
-2703
[2]
CRANE R, 1969, APPL OPTICS, V8, P538
[3]
SINUSOIDAL PHASE MODULATING INTERFEROMETRY FOR SURFACE PROFILE MEASUREMENT
[J].
SASAKI, O
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SASAKI, O
;
OKAZAKI, H
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OKAZAKI, H
.
APPLIED OPTICS,
1986,
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