USE OF AFCRL LINE PARAMETERS COMPILATION TO TEST-PERFORMANCE OF AN IR SPECTROMETER SYSTEM

被引：8

作者：

CHANG, YS

SHAW, JH

USELMAN, WM

CALVERT, JG

机构：

[1] OHIO STATE UNIV,DEPT PHYS,COLUMBUS,OH 43210

[2] OHIO STATE UNIV,DEPT CHEM,COLUMBUS,OH 43210

来源：

APPLIED OPTICS | 1977年 / 16卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.16.002116

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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页数：3