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DIFFUSION INTO SILICON FROM AN ARSENIC-DOPED OXIDE
被引:24
作者
:
LEE, DB
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
LEE, DB
机构
:
来源
:
SOLID-STATE ELECTRONICS
|
1967年
/ 10卷
/ 06期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0038-1101(67)90145-1
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:623 / &
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[1]
A DIFFUSION MASK FOR GERMANIUM
[J].
JORDAN, EL
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JORDAN, EL
.
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1961,
108
(05)
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-481
[2]
SCOTT J, 1965, RCA REV, V26, P357
[3]
DETAILED ANALYSIS OF THIN PHOSPHORUS-DIFFUSED LAYERS IN PARA-TYPE SILICON
[J].
TANNENBAUM, E
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SOLID-STATE ELECTRONICS,
1961,
2
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