CURRENT DEVELOPMENTS IN HIGH-VOLTAGE ELECTRON-MICROSCOPY

被引：13

作者：

COSSLETT, VE ^{[1
]}

机构：

[1] CAVENDISH LAB, CAMBRIDGE, ENGLAND

来源：

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1974.tb03936.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：233 / 246

页数：14

共 69 条

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