APPLICATION OF ION-BEAM SPUTTERING FOR HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY

被引：10

作者：

KANAYA, K

BABA, N

MURANAKA, Y

ADACHI, K

机构：

[1] UNIV TOKYO,DEPT ENGN,BUNKYO KU,TOKYO 113,JAPAN

[2] HAMAMATSU UNIV,SCH MED,DEPT HYG & INTERNAL MED,HAMAMATSU,SHIZUOKA 43131,JAPAN

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY TECHNIQUE | 1986年 / 4卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1002/jemt.1060040102

中图分类号：

Q [生物科学];

学科分类号：

07 [理学]; 0710 [生物学]; 09 [农学];

摘要：

引用

页码：1 / 19

页数：19

共 43 条

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