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A TECHNIQUE FOR MEASURING THE EFFECTIVE DIELECTRIC-CONSTANT OF A MICROSTRIP LINE
被引:3
作者
:
HUBBELL, S
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
UNIV CALIF BERKELEY,DEPT ELECT ENGN & COMP SCI,BERKELEY,CA 94720
HUBBELL, S
ANGELAKOS, DJ
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
UNIV CALIF BERKELEY,DEPT ELECT ENGN & COMP SCI,BERKELEY,CA 94720
ANGELAKOS, DJ
机构
:
[1]
UNIV CALIF BERKELEY,DEPT ELECT ENGN & COMP SCI,BERKELEY,CA 94720
[2]
UNIV CALIF BERKELEY,ELECTR RES LAB,BERKELEY,CA 94720
来源
:
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
|
1983年
/ 31卷
/ 08期
关键词
:
D O I
:
10.1109/TMTT.1983.1131572
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
收藏
页码:687 / 688
页数:2
相关论文
共 2 条
[1]
CHARGE AND POTENTIAL DISTRIBUTIONS IN SHIELDED STRIPLINES
[J].
MITTRA, R
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MITTRA, R
;
ITOH, T
论文数:
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ITOH, T
.
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES,
1970,
MT18
(03)
:149
-&
[2]
Yamashita E., 1968, IEEE T, VMTT-16, P251, DOI DOI 10.1109/TMTT.1968.1126658
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[1]
CHARGE AND POTENTIAL DISTRIBUTIONS IN SHIELDED STRIPLINES
[J].
MITTRA, R
论文数:
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0
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0
MITTRA, R
;
ITOH, T
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
ITOH, T
.
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES,
1970,
MT18
(03)
:149
-&
[2]
Yamashita E., 1968, IEEE T, VMTT-16, P251, DOI DOI 10.1109/TMTT.1968.1126658
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