ELECTRON-MICROSCOPY OF CRITICAL-POINT DRIED WHOLE CULTURED-CELLS

被引:133
作者
BUCKLEY, IK [1 ]
PORTER, KR [1 ]
机构
[1] UNIV COLORADO, DEPT MOLEC CELLULAR & DEV BIOL, BOULDER, CO 80302 USA
关键词
D O I
10.1111/j.1365-2818.1975.tb04010.x
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
引用
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页码:107 / 120
页数:14
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