PROSPECTS FOR IMPROVEMENT IN EDX MICROANALYSIS

被引：5

作者：

STATHAM, PJ

机构：

来源：

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1983年 / 130卷 / MAY期

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1983.tb04215.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：165 / 176

页数：12

共 27 条

[1]

COX CE, 1981, 6TH P INT S NOIS PHY

[2]

FINK RW, 1981, NBS SPECIAL PUBL, V604

[3]

FIORI CE, 1980, SCANNING ELECTRON MI, V2, P251

[4]

HEINRICH KFJ, 1981, NBS SPECIAL PUBL, V604

[5]

Hubbell J. H., 1971, Atomic Data, V3, P241, DOI 10.1016/S0092-640X(71)80010-4

[6] DETECTION OF LOW ENERGY X-RAYS WITH SI(LI) DETECTORS [J].

JAKLEVIC, JM ;

GOULDING, FS .

[7]

KANDIAH K, 1975, 2ND P ISPRA NUCL EL

[8] ENTRANCE WINDOWS IN GERMANIUM LOW-ENERGY X-RAY DETECTORS [J].

LLACER, J ;

HALLER, EE ;

CORDI, RC .

LOOMIS, TC ;

KEITH, HD .

[10]

LOVE G, 1977, I PHYS C SER, V36, P347