DEEP TRAPS IN GAAS REVEALED AT HIGH-RESOLUTION BY SIMPLE FAST PHOTOCAPACITANCE METHODS

被引：14

作者：

WHITE, AM ^{[1
]}

PORTEOUS, P ^{[1
]}

DEAN, PJ ^{[1
]}

机构：

[1] ROY RADAR ESTAB,ST ANDREWS RD,GREAT MALVERN,WORCESTERSHIRE,ENGLAND

来源：

关键词：

D O I：

10.1007/BF02652888

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：91 / 107

页数：17

共 15 条

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