RADIATION DAMAGE IN SIC

被引:17
作者
BABCOCK, R
机构
关键词
D O I
10.1109/TNS.1965.4323922
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
收藏
页码:43 / &
相关论文
共 20 条
  • [1] AUKERMAN LW, 1960, SILICON CARBIDE HIGH, P388
  • [2] Babcock R. V., 1963, P IARA S, V1, P613
  • [3] BABCOCK RV, 1963, PHYSICS FAILURE ELEC, P56
  • [4] BABCOCK RV, 1961, IRE T NUCL SCI, VNS 8, P98
  • [5] BALLWEG LG, 1951, NEPA1865 FAIRCH ENG
  • [6] CHOYKE WJ, 1964, PHYS REV, V133, P1166
  • [7] COOLEY W, 1963, 20230 OTS PUBL, P20
  • [8] ELLEMAN TS, 1963, T AM NUCL SOC, V6, P384
  • [9] Fuchs L.H., 1956, PHYS REV, V103, P1184
  • [10] HAMILTON DR, 1960, SILICON CARBIDE HIGH, P43