RESONANT FRUSTRATED-TOTAL-REFLECTION TECHNIQUE FOR THE CHARACTERIZATION OF THIN-FILMS

被引：9

作者：

BOSACCHI, B

OEHRLE, RC

机构：

来源：

APPLIED OPTICS | 1982年 / 21卷 / 12期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.21.002167

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：2167 / 2173

页数：7

共 5 条

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