RAMP TECHNIQUE FOR DC PARTIAL DISCHARGE TESTING

被引：11

作者：

BEVER, RS

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRICAL INSULATION | 1985年 / 20卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1109/TEI.1985.348754

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：38 / 46

页数：9

共 9 条

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