COMPARISON OF MICRON AND SUB-MICRON FLY-ASH PARTICLES USING SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY AND X-RAY ELEMENTAL ANALYSIS

被引：27

作者：

KAUFHERR, N

LICHTMAN, D

机构：

[1] UNIV WISCONSIN,DEPT PHYS,MILWAUKEE,WI 53201

[2] UNIV WISCONSIN,SURFACE STUDIES LAB,MILWAUKEE,WI 53201

来源：

关键词：

D O I：

10.1021/es00125a012

中图分类号：

X [环境科学、安全科学];

学科分类号：

08 ; 0830 ;

摘要：

引用

页码：544 / 547

页数：4

共 9 条

[1]

GOLDSTEIN JI, 1981, SCANNING ELECTRON MI

HOCK, JL ;

LICHTMAN, D .

[3]

HULLET LD, 1980, SCIENCE, V210, P1356

[4]

LINTON RW, 1983, COMMUNICATION

ROTHENBERG, SJ ;

DENEE, P ;

HOLLOWAY, P .

[6]

SMALL JA, 1981, SCANNING ELECTRON MI, V1, P447

[7]

TORREY S, 1978, POLLUTION TECHNOLOGY, V48

[8]

VALKOVIC V, 1983, TRACE ELEMENTS COAL, V1

[9]

1983, PLANNING STUDIES MEA