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INSTALLATION OF A SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE FOR THE EXAMINATION OF IRRADIATED MATERIALS
被引：4
作者：
COQUERELLE, M
KNAPPIK, P
PERRIER, C
机构：
来源：
JOURNAL DE PHYSIQUE
|
1984年
/
45卷
/
NC-2期
关键词：
D O I：
10.1051/jphyscol:19842194
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
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页码：845 / 848
页数：4
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