FREQUENCY-DOMAIN ANALYSIS OF TIME-DEPENDENT REFLECTION HIGH-ENERGY ELECTRON-DIFFRACTION INTENSITY DATA

被引：11

作者：

TURNER, GW

NECHAY, BA

EGLASH, SJ

机构：

来源：

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B | 1990年 / 8卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1116/1.584828

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：283 / 287

页数：5

共 6 条

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