DETECTION OF LOW-MASS IMPURITIES IN THIN-FILMS USING MEV HEAVY-ION ELASTIC-SCATTERING AND COINCIDENCE DETECTION TECHNIQUES

被引：21

作者：

MOORE, JA ^{[1
]}

机构：

[1] BROCK UNIV,DEPT PHYS,ST CATHARINES,ONTARIO,CANADA

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.321368

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：52 / 61

页数：10

共 6 条

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