SAMPLING-MODE SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE FOR PROBING FAST VOLTAGE WAVEFORMS

被引：5

作者：

GOPINATHAN, KG ^{[1
]}

THOMAS, PR ^{[1
]}

GOPINATH, A ^{[1
]}

OWENS, AR ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV COLL N WALES,SCH ELECTR ENGN SCI,BANGOR LL57 1UT,WALES

来源：

关键词：

D O I：

10.1049/el:19760380

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页数：2