ON THE TOXICITY OF SPARKED SF6 - DISCUSSION

被引：10

作者：

GRIFFIN, GD

SAUERS, I

CHRISTOPHOROU, LG

EASTERLY, CE

WALSH, PJ

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRICAL INSULATION | 1983年 / 18卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1109/TEI.1983.298642

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：551 / 552

页数：2

共 8 条

[1]

CHRISTOPHOROU LG, 1981, ORNLTM7624

[2]

EASTERLY CE, 1982, ORNLTM8353

[3] POSITIVE-IONS IN SPARK BREAKDOWN OF SF6 [J].

FREES, LC ;

SAUERS, I ;

ELLIS, HW ;

CHRISTOPHOROU, LG .

[4]

GRIFFIN GD, 1982, 34TH SE REG M AM CHE

[5]

GRIFFIN GD, 1982, GASEOUS DIELECTRICS, V3, P420

[6]

SAUERS I, 1982, GAS DISCHARGES THEIR, P300

[7]

SAUERS I, 1982, GASEOUS DIELECTRICS, V3, P387

[8]

VANROGGEN A, 1983, IEEE T ELECTR INSUL, V18, P93