ANALYSIS OF ELECTRIC STRESS-DISTRIBUTION IN CAVITIES EMBEDDED WITHIN DIELECTRIC STRUCTURES

被引：11

作者：

CHANG, DD ^{[1
]}

SUDARSHAN, TS ^{[1
]}

THOMPSON, JE ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV S CAROLINA,COLUMBIA,SC 29208

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRICAL INSULATION | 1986年 / 21卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1109/TEI.1986.348947

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：213 / 219

页数：7

共 11 条

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