SURFACE CHANNELING OF SWIFT LIGHT-IONS - MEASUREMENTS AND SIMULATION

被引：17

作者：

HOU, M ^{[1
]}

VARELAS, C ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV MUNICH,PHYS SECT,D-8000 MUNICH 40,FED REP GER

来源：

APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING | 1984年 / 33卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1007/BF00617618

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：121 / 131

页数：11

共 27 条

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