FRACTAL CHARACTERIZATION OF ROUGH SURFACES USING SECONDARY ELECTRONS

被引：9

作者：

PANDE, CS

LOUAT, N

MASUMURA, RA

SMITH, S

机构：

[1] CRYSTAL GROWTH & MAT TESTING,LANHAM,MD 20706

[2] GEO CTR INC,SUITLAND,MD 20746

来源：

PHILOSOPHICAL MAGAZINE LETTERS | 1987年 / 55卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1080/09500838708228739

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页码：99 / 104

页数：6

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共 5 条

[1]

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