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HIGH-PRECISION MEASUREMENTS OF THE QUANTIZED HALL RESISTANCE AT THE PTB
被引:26
作者
:
BLIEK, L
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0
机构:
FERMELDE TECH ZENT,DARMSTADT,FED REP GER
BLIEK, L
BRAUN, E
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机构:
FERMELDE TECH ZENT,DARMSTADT,FED REP GER
BRAUN, E
MELCHERT, F
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机构:
FERMELDE TECH ZENT,DARMSTADT,FED REP GER
MELCHERT, F
WARNECKE, P
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0
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机构:
FERMELDE TECH ZENT,DARMSTADT,FED REP GER
WARNECKE, P
SCHLAPP, W
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0
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机构:
FERMELDE TECH ZENT,DARMSTADT,FED REP GER
SCHLAPP, W
WEIMANN, G
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机构:
FERMELDE TECH ZENT,DARMSTADT,FED REP GER
WEIMANN, G
PLOOG, K
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机构:
FERMELDE TECH ZENT,DARMSTADT,FED REP GER
PLOOG, K
EBERT, G
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机构:
FERMELDE TECH ZENT,DARMSTADT,FED REP GER
EBERT, G
DORDA, GE
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机构:
FERMELDE TECH ZENT,DARMSTADT,FED REP GER
DORDA, GE
机构
:
[1]
FERMELDE TECH ZENT,DARMSTADT,FED REP GER
[2]
TECH UNIV MUNICH,RES LABS,D-8000 MUNICH 2,FED REP GER
[3]
MAX PLANCK INST SOLID STATE RES,STUTTGART,FED REP GER
[4]
SIEMANS AG,RES LABS,MUNICH,FED REP GER
来源
:
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
|
1985年
/ 34卷
/ 02期
关键词
:
D O I
:
10.1109/TIM.1985.4315330
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:304 / 305
页数:2
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共 2 条
[1]
BLIEK L, 1983, PTB-MITT, V93, P21
[2]
VONKLITZING K, 1980, PHYS REV LETT, V45, P494, DOI 10.1103/PhysRevLett.45.494
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共 2 条
[1]
BLIEK L, 1983, PTB-MITT, V93, P21
[2]
VONKLITZING K, 1980, PHYS REV LETT, V45, P494, DOI 10.1103/PhysRevLett.45.494
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