REFLECTION EFFECTS IN INTERFEROMETRY

被引：17

作者：

MCLARNON, FR

MULLER, RH

TOBIAS, CW

机构：

[1] LAWRENCE BERKELEY LAB,INORG MAT RES DIV,BERKELEY,CA 94720

[2] UNIV CALIF,DEPT CHEM ENGN,BERKELEY,CA 94720

来源：

APPLIED OPTICS | 1975年 / 14卷 / 10期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.14.002468

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：2468 / 2472

页数：5

共 6 条

BEACH, KW ;

MULLER, RH ;

TOBIAS, CW .

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BEACH, KW ;

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MCLARNON, FR ;

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