LASER DIODE FEEDBACK INTERFEROMETER FOR STABILIZATION AND DISPLACEMENT MEASUREMENTS

被引：116

作者：

YOSHINO, T ^{[1
]}

NARA, M ^{[1
]}

MNATZAKANIAN, S ^{[1
]}

LEE, BS ^{[1
]}

STRAND, TC ^{[1
]}

机构：

[1] IBM, ALMADEN RES CTR, SAN JOSE, CA 95120 USA

来源：

APPLIED OPTICS | 1987年 / 26卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.26.000892

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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页数：6