SCANNING TUNNELING MEASUREMENTS OF POTENTIAL STEPS AT GRAIN-BOUNDARIES IN THE PRESENCE OF CURRENT FLOW

被引:8
作者
KIRTLEY, JR
WASHBURN, S
BRADY, MJ
机构
[1] IBM, Yorktown Heights, NY, USA, IBM, Yorktown Heights, NY, USA
关键词
D O I
10.1147/rd.323.0414
中图分类号
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号
0812 ;
摘要
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页数:5
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