DEFINITION AND USE OF A SPECIFIC VALUE TO CHARACTERIZE THE DIELECTRIC-BREAKDOWN OF THIN INSULATING LAYERS

被引：2

作者：

LACOSTE, R

MUHAMMAD, A

SEGUI, Y

VOUMBOMATOUMONA, L

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRICAL INSULATION | 1984年 / 19卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1109/TEI.1984.298754

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：234 / 240

页数：7

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共 5 条

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